Szczegóły publikacji
| Autorzy | J. Szuber, P. Kościelniak, S. Kaszczyszyn |
| Temat publikacji | Multiple-technique electron spectrometer for investigation of semiconductor surfaces end interfaces |
| Magazyn | Elektronika |
| Nakład | XLIII |
| Rok publikacji | 2001 |
| Strony | 8-9. |